Zoccoli ZIF

Accessori Semiconduttori

28-pin ZIF test socket IC Corpo stretto 228-3341

228-3341 28-pin narrow zif test socket228-3341 28-pin narrow zif test socket
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Zoccoli ZIF

Sede di bloccaggio 32P, IC Block, sede di prova 32PIC, corpo largo, sede live 32P, presa IC

32P locking seat, IC Block, 32PIC test seat, wide-body, 32P live seat, IC socket32P locking seat, IC Block, 32PIC test seat, wide-body, 32P live seat, IC socket
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Sede di bloccaggio 20P, blocco IC, sede di prova 20PIC, sede live 20P, presa IC

20P locking seat, IC Block, 20PIC test seat, 20P live seat, IC socket20P locking seat, IC Block, 20PIC test seat, 20P live seat, IC socket
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Accessori Semiconduttori

3 pezzi 16P sedile di bloccaggio, blocco IC, sedile di prova 16PIC, sedile live 16P, base chip, presa IC

3 Pezzi 16P locking seat, IC Block, 16PIC test seat, 16P live seat, chip base, IC socket3 Pezzi 16P locking seat, IC Block, 16PIC test seat, 16P live seat, chip base, IC socket
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Sede di bloccaggio 14P, sede di prova 14PIC, sede live 14P, base chip, presa IC

14P locking seat, 14PIC test seat, 14P live seat, chip base, IC socket14P locking seat, 14PIC test seat, 14P live seat, chip base, IC socket
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Blocco di bloccaggio 40P placcato argento nero 3MM, sedile live 40P, sedile di prova 40PIC, blocchi di prova universali, presa d

3MM black silver plated 40P locking Block, 40P live seat, 40PIC test seat, universal test blocks, IC Test Socket3MM black silver plated 40P locking Block, 40P live seat, 40PIC test seat, universal test blocks, IC Test Socket
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40P, sedile di bloccaggio, sedile di prova Block IC invecchiato, sedile del sedile di conversione DIP40

40P, locking seat, aging Block IC test seat, seat of conversion seat DIP4040P, locking seat, aging Block IC test seat, seat of conversion seat DIP40
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Sedile di blocco placcato in oro 3MM40P Blocco IC di blocco 40P, Blocco di prova 40PIC

3MM40P gold-plated locking seat 40P locking IC Block, 40PIC Test Block3MM40P gold-plated locking seat 40P locking IC Block, 40PIC Test Block
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40P chiusura universale 3MM, sede di chiusura 40P, sede di chiusura universale, sedile di prova 40PIC, disponibile largo e stret

40P 3MM universal locking, 40P locking seat, universal locking seat, 40PIC test seat, wide and narrow available40P 3MM universal locking, 40P locking seat, universal locking seat, 40PIC test seat, wide and narrow available
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Chiusura 40P, blocco IC, sede libera 40P, base chip presa test 40PIC, presa IC

40P locking, IC Block, 40P loose seat, 40PIC test socket chip base, IC socket40P locking, IC Block, 40P loose seat, 40PIC test socket chip base, IC socket
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